524
Цена не указана!
Внимание! Цена может отличаться и указана только для справки как примерная стоимость!
Описание JEOL JSM-IT300 Растровый электронный микроскоп
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур. РЭМ с электронно-оптической системой высокопроизводительный аналитический многофункциональный растровый электронный микроскоп. Прибор оборудован улучшенной электронно-оптической системой, позволяющей получать изображения высокого качества.Другие предложения Инжиниринговая компания СИТЭК
-
Цену уточняйте!Промышленное проектирование под ключ. Оказание услуг генерального проектировщика. Успешный опыт....